Análisis Orientado Al Mejoramiento De La Detección De Defectos Superficiales Y Sub-Superficiales, Basado En El Procesamiento De Imágenes De Termografía Infrarroja

Convocatoria Externa

Facultad:: Facultad De Ingeniería Y Arquitectura
Departamento:: Departamento De Ingeniería Eléctrica, Electrónica Y Computación
Docente Lider:: Julio Cesar Garcia Alvarez; jcgarciaa@unal.edu.co
Fecha de Inicio:: nan
Fecha de Finalización:: nan
Presupuesto Total:: $0,00
Presupuesto Ejecutado:: $0,00
Porcentaje de Ejecución:: 0,0

Ultima Actualización: 10/10/1998